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申请号 | 专利名称 | 专利状态 | 申请日 | 缴费截止日 | 授权日 | 更新日 |
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2017104815880 |
发明
一种非易失存储器坏块测试方法及系统 特价
数据存储 数据闪存 实时数据保存 【（数据存储 数据闪存 实时数据保存）】 1人 G06F11/22 G11C29/44 |
已下证 |
