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申请号 | 专利名称 | 专利状态 | 申请日 | 缴费截止日 | 授权日 | 更新日 |
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2019111739537 |
发明
一种基于干涉方式的激光波长测量装置与方法【特价】
光学测量 激光测量 波长测量 精密测量 激光干涉仪 光学精密测量 激光干涉仪 1人 G01J9/02 |
授权未下证 | ||||
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2019112217799 |
发明
一种利用干涉原理完成激光波长测量的装置与方法【特价】
光学测量 激光测量 波长测量 精密测量 激光干涉仪 光学精密测量 激光干涉仪 1人 G01J9/02 |
授权未下证 | ||||
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2020100945463 |
发明
一种采用激光干涉原理的实时波长检测装置及其使用方法【特价】
光学测量 激光测量 波长测量 精密测量 激光干涉仪 光学精密测量 激光干涉仪 1人 G01J9/02 |
授权未下证 |
