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申请号 | 专利名称 | 专利状态 | 申请日 | 缴费截止日 | 授权日 | 更新日 |
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2016101248658 |
发明
一种校正测量数据的方法及装置
半导体制造与质量控制 电子设备生产 质量控制与可靠性评估 研发与测试 【工业自动化与智能制造 科学研究和实验 环境监测与保护 医疗健康 航空航天与国防】 测量技术 装置设计 精度提升 3人 H03M1/10 |
已下证 |
