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申请号 | 专利名称 | 专利状态 | 申请日 | 缴费截止日 | 授权日 | 更新日 |
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2024110860686 |
发明
一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备 【特价15】
半导体材料 集成电路 芯片检测 半导体封装 芯片封装 【半导体材料 集成电路 芯片检测 半导体封装 芯片封装】 1人 G01R31/26 G01R31/01 G01R1/04 |
授权未下证 | ||||
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2020108805663 |
发明
针压适配方法、装置、针测设备及可读存储介质【特价15】
集成电路 半导体芯片 晶圆加工 芯片制造 探针 光刻 【集成电路 半导体芯片 晶圆加工 芯片制造 探针 光刻】 1人 G01R31/26 G01R27/20 G01R1/067 |
已下证 | ||||
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2024112274400 |
发明
一种二极管生产用测试装置及其测试方法
二极管 电子器件 半导体 （二极管 半导体） 1人 G01R31/26 G01R1/04 G01R1/02 |
授权未下证 | ||||
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2015109158053 |
发明
二极管失效分析装置
电子元件 半导体器件 半导体材料 电子行业 二极管 电子器件 电气设备 二极管电子器件元器件半导体芯片 【电子元件 半导体器件 半导体材料 电子行业 二极管 电子器件 电气设备】 2人 G01R31/26 |
已下证 | ||||
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2020115434371 |
发明
一种LED灯生产用质量检测装置
LED灯 生产 质量检测 【LED灯生产】 7人 G01R31/44 G01R31/26 G01R1/04 G01N21/88 G01N21/01 |
已下证 |
