发明 一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备 【特价15】
半导体材料 集成电路 芯片检测 半导体封装 芯片封装 【半导体材料 集成电路 芯片检测 半导体封装 芯片封装】 1人
G01R31/26 G01R31/01 G01R1/04
摘要：本发明涉及半导体检测技术领域，尤其涉及一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备，所述具有辐射干扰结构的半导体检测设备包括立柱、辐射干扰腔、齿环、上料部件和检测部件，所述辐射干扰腔固定连接在所述立柱上端，所述齿环转动连接在所述辐射干扰腔内，所述齿环开设有呈环形阵列设置的多个凹槽，多个所述凹槽内侧壁上分别固定连接有托盘，本发明中拨动板就会推动新的半导体重新这一组放置板进行上料，从而实现竖板利用放置板对托盘上料，而拨动板能够对放置板进行上料，因此自动对托盘不断的上料作用。
