发明 一种存储设备的IO性能测试方法【特价15】
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G11C29/12 G06F11/34
摘要：本发明涉及性能测试领域，本发明提供了一种存储设备的IO性能测试方法，搭建负载测试环境，在负载测试环境中配置存储设备，对存储设备进行IO负载测试，记录存储设备在IO负载测试过程中的性能数据，对所述性能数据进行失衡落点检测，得到失衡数据，利用失衡数据构建失衡测定模型。所述方法能够有效地评估存储设备的IO性能，并及时发现存储设备中可能存在的异常，利用实时IOPS数据构建失衡测定模型以检测存储设备在高负载读写状态下的稳定性和可靠性，通过对存储设备在持续工作过程中是否存在某些瞬间的性能波动进行判断，进而对存储设备进行维护，避免数据读写延迟或失败，充分提高存储设备的使用性能和稳定性。
