发明 一种连续式集成电路测试系统及其测试方法
集成电路测试系统 5人
G01R31/28
摘要：本发明公开了一种连续式集成电路测试系统及其测试方法，涉及集成电路测试系统技术领域，包括测试设备控制模块、测试软件模块、自动化控制系统模块和决策反馈模块，所述测试设备控制模块用于控制测试设备与IC自动适配，确保一致性和可重复性的测试，所述测试软件模块用于调用测试软件对IC测试和采集测试数据生成测试报告，所述自动化控制系统模块用于调度执行测试计划并对测试进度进行实时监控，所述决策反馈模块用于对测试数据进行IC缺陷追踪和优化设计反馈。本发明通过设计有测试设备控制模块，实现了对IC测试的自动化设备连接，确保了IC与测试设备正确连接，提供稳定的电气连接，解决了人工装配连接出现连接错误的问题。
