发明 一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法
晶体 （晶体） 1人
G01B21/30
摘要：本发明涉及晶体检测领域，具体涉及一种晶体表面光滑度检测设备及其使用方法，包括立板，立板的侧面设有滑槽；至少一个设置于滑槽内的滑块、与滑块的前侧面固定连接的光滑度测量仪，滑块与滑槽滑动连接；用于驱动滑块在滑槽中作升降运动的升降部；正对于光滑度测量仪的检测头的夹持部，夹持部用于夹持晶体，且夹持部与滑块一一对应，夹持部包括对称设于滑槽两侧的第一气缸、与第一气缸的伸缩杆固定连接的压板，两个压板相对设置；与第一气缸连接的转动部，滑槽的侧壁设有内侧槽，转动部用于带动第一气缸转动，且转动部设于内侧槽内。通过本发明，在对晶体的光滑度进行检测时，可有效减少人体接触晶体的次数，减小了晶体被损伤的风险。
