发明 指纹芯片测试方法及测试设备
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H04B17/345 H04M1/67 G06F21/32
摘要：本发明实施例提供了一种指纹芯片测试方法及测试设备，其中，指纹芯片测试方法包括：控制射频发生设备和待测指纹芯片所在的移动设备对预设信道范围内的所有信道逐个进行通信连接，获取待测指纹芯片在每个信道下的指纹数据；根据获取的指纹数据，确定待测指纹芯片在每个信道下的通信干扰值，获得与所述所有信道对应的多个通信干扰值；从多个通信干扰值中确定最大通信干扰值，并将最大通信干扰值对应的信道确定为待测信道，对待测指纹芯片进行待测信道下的通信干扰测试。通过本发明实施例，可以保证指纹芯片测试的测试结果可以涵盖干扰最强情况下的指纹性能。
