发明 一种芯片性能测试方法、装置及系统-报过国高
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G01R31/28
摘要：本发明公开了一种芯片性能测试方法、装置及系统，该方法包括：当接收到对待测试芯片进行测试的测试指令时，信号产生单元根据该测试指令产生指定类型的测试信号，并输出该测试信号，信号连接单元根据测试内容通过开关组件的开合状态，形成将该测试信号输入到信号接收处理单元的闭合回路，当该信号接收处理单元接收到从该闭合回路输入的该测试信号时，对该测试信号进行处理得到结果数据，该结果数据用于与预置判定数据进行比较，以得出与测试内容对应的的测试结果。本发明可在该待测试芯片的内部实现对芯片性能的测试，提高测试结果的准确性，并降低测试成本。
