发明 一种金属铜箔卷厚度检测装置（铝箔铜箔铁箔 铜排 铜制品 铜带）
铝箔铜箔铁箔 铜排 铜制品 铜带 【铝箔铜箔铁箔 铜排 铜制品 铜带】 2人
G01B21/08
摘要：本发明涉及铜箔检测技术领域，具体涉及一种金属铜箔卷厚度检测装置，包括铜箔带、初检结构、复检结构和整理结构，所述初检结构和复检结构均夹持在铜箔带的外侧，用于检测铜箔带的厚度，所述整理结构位于初检结构与复检结构之间，用于对厚度异常的铜箔带进行处理。本发明通过初检结构先对铜箔进行初步检测，当铜箔带厚度异常时，将会触发感应探头，感应探头发出信号，通过单片机处理后控制整理结构对铜箔带边缘处进行抚平处理，同时吹去铜箔带表面的灰尘及碎屑，初步处理完成后，再由复检结构进行再次测量，若复检结构测量结果依然是铜箔厚度异常，则判定铜箔厚度异常，再通过单片机进行报警，并控制整个装置停机，从而达到防止误判断的情况发生。
