发明 一种基于干涉方式的激光波长测量装置与方法【特价】
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G01J9/02
摘要：本发明涉及一种基于干涉方式的激光波长测量装置与方法，包括：待测激光源，用于发射待测激光束；分光镜，用于接收待测激光束，并将待测激光束透射至楔形反光镜，以及反射至透镜；楔形反光镜，用于将分光镜透射的待测激光束反射至透镜；透镜，用于接收分光镜和楔形反光镜反射的待测激光束，并将待测激光束透射至光电探测器；光电探测器，用于接收透镜透射的待测激光束；处理器，与光电探测器电连接，用于检测光电探测器上产生的干涉现象。本发明中测量装置所使用的光学器件简单，无需标准波长激光源参与测量，大大降低了测量装置的复杂度，并且也提高了装置对待测激光波长的测量精度。
