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申请号 专利名称 专利状态 申请日 缴费截止日 授权日 更新日
2020113029747 发明 套刻对准标记和套刻误差测量方法【特价15】
半导体芯片 半导体器件 集成电路 光学器件 芯片制造 晶圆加工 光刻 1人
H01L23/544 H01L21/66 G03F9/00 G01B15/04
已下证
2024107657465 发明 一种晶圆缺陷检测装置及方法【需定金预留】
晶圆 半导体 1人
H01L21/66
授权未下证
2024105773033 发明 一种基于物联网的光伏组件用生产装置及系统
物联网 光伏组件 【物联网 光伏组件】 1人
H01L31/048 H01L31/18 H01L21/66 H01L21/67 H04L67/12 G16Y40/10
授权未下证
2024102252693 发明 一种半导体工件制作用检测系统及方法(半导体检测 芯片 集成电路 电路板 pcb板)
半导体检测 芯片 集成电路 电路板 pcb板 【半导体检测 芯片 集成电路 电路板 pcb板】 2人
H01L21/66 H01L21/67 G01D21/00
授权未下证
202211043323X 发明 一种石墨舟中硅片贴合状态检测装置及其使用方法(光伏设备 光伏电池板 光伏发电 太阳能电池采用石墨舟作为载具)
光伏设备 光伏电池板 光伏发电 太阳能电池采用石墨舟作为载具 【光伏设备 光伏电池板 光伏发电 太阳能电池采用石墨舟作为载具】 2人
H01L21/66 H01L21/677 H01L21/687 H01L31/18
授权未下证
2018101435969 发明 一种硅片清洗前的湿度保持机构(特价15)
硅片清洗 湿度保持机构 芯片 【硅片清洗 湿度保持机构 芯片】 2人
H01L21/67 H01L21/68 H01L21/66
已下证
2019105742301 发明 一种离子探测器及其制备方法
离子检测 半导体探测器 掺杂剂 离子能量检测 半导体材料 离子检测 半导体探测器 掺杂剂 离子能量检测 半导体材料 【离子检测 半导体探测器 掺杂剂 离子能量检测 半导体材料】 【 废品回收 建筑垃圾回收 】 【离子检测 半导体探测器 掺杂剂 离子能量检测 半导体材料 电子元件】 离子检测 半导体探测器 掺杂剂 离子能量检测 半导体材料 电子元件 1人
H01L21/66 G01R27/02
已下证
2018104568750 发明 一种集成制造装置(集成电路 集成芯片制造 半导体 电路板)
【集成电路 集成芯片制造 半导体 电路板】 1人
H01L21/67 H01L21/677 H01L21/66
已下证